Strukturcharakterisierung
Rasterelektronenmikroskopie (REM)
Profilometrie
Atomkraftmikroskopie (AFM)
Beispiel
Strukturcharakterisierung
Wir können für Sie spezielle Strukturcharakterisierungen anbieten. Gerne prüfen wir, ob Ihnen mit Hilfe unserer fortgeschrittenen Technologie geholfen werden kann und erstellen Ihnen ein Angebot.
